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2018-01-15
2014-10-31
2019-11-19
工業檢測顯微鏡TYV-54X
技術參數
1
平場目鏡
大視野WF10XΦ25mm
2
平場分劃目鏡
WF10X/Φ20mm （0.1格值）
3
無窮遠平場長工作距離平場物鏡
(放大倍數/數值孔徑/工作距離)PL5X/0.10/29.4、 PLL10X/0.25/16、PLL20X/0.40/10.6、PLL40X/0.60/5.4、PLL80X/0.75/4.0
4
總放大倍數
50X-800X
5
三目觀察頭：
30°傾斜
6
物鏡轉換器：
五孔帶DIC、明暗場插孔
7
粗微調調焦范圍：
30mm,粗微動同軸調焦, 微動格值0.002mm
8
載物臺：
雙層移動平臺 尺寸350X310mm 移動范圍: 250X250mm 玻璃平臺：尺寸268×198mm 移動范圍：250×250mm
9
載物臺移動：
具有快速手推功能，可實現快速到位
10
偏光裝置
檢偏鏡可360°轉動，起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路
11
DIC暗場裝置
DIC、暗場插件均可移出光路
12
落射照明：
亮度可調 鹵鎢燈泡 12V100W 落射照明器帶視場光欄、孔徑光欄
13
儀器重量
凈重35kg 毛重40kg
14
儀器尺寸
儀器尺寸40X50X47（cm） 包裝尺寸59X49X53 (cm)
名稱
主要技術參數
單位
數量
顯微鏡主體
臺
套
簡易偏振裝置
目鏡
10X
對
分劃目鏡
10X 0.1mm十字分劃板
只
物鏡
5X、 10X 、20X、40X、80X
各1
測微尺
0.01mm
塊
備用燈泡
12V/100W
濾色片
藍、綠、磨砂玻璃
片
隨機文件
裝箱單、合格證、保修卡、說明書
2、選購件：
目鏡 15X/Φ17、20X/Φ12.5 50X物鏡 攝影攝像裝置、圖像分析軟件
數字式四探針電阻率測試儀型號：SX1944
產品說明 四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。廣泛用于半導體廠家、太陽能行業，還能滿足科研單位的精密研究。 產品特點 四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M 標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測試儀器。 儀器以大規模集成電路為核心部件，采用旋扭式開關控制，及各種工作狀態LED指示。應用微計算機技術，使得測量讀數更加直觀、快速。整套儀器體積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩定性好、易操作。 型號SX1944 測量范圍電阻率：10-4～105Ω-cm 方塊電阻：10-3～106Ω/□ 電阻：10-4～105Ω 可測半導體材料尺寸直徑：Φ15～100mm 測量方位軸向、徑向均可 數字電壓表⑴量程： 200mV ⑵誤差：± 0.1% 讀數± 2 字 ⑶大分辨力：10μV 顯示 : 4位半數字顯示。小數點自動顯示 數控恒流源⑴電流輸出：直流電流 0 ～ 100mA 連續可調，由交流電源供電。 ⑵量程： 1 μ A ， 10 μ A ， 100μA ， 1mA ， 10mA ， 100mA ⑶誤差：± 0.5% 讀數± 2 字 四探針測試探頭⑴探 針 間 距： 1mm ⑵探針機械游移率： ± 1.0% ⑶探 針： 碳化鎢，Φ 0.5mm ⑷壓 力： 0 ～ 2kg 可調 , 大壓力約 2kg 電源輸入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗： <20W 外形尺寸主機 260mm （長）× 210 mm （寬）× 125mm （高） 備注USB 接口，配軟件
TEL：18910534055
1891053405518910534055
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